足型之分类主要依据足弓高度之测量，所谓足弓高度指沿足内侧纵弓软性组织之最高点至平面之距离，距离高低即是我们所熟知的高足弓与低足弓(扁平足)。

明确地说就是足弓高度异常者较容易和下肢疼痛密切关系，所谓足弓高度异常通常指高足弓足和低足弓足二种。

你了解你的足弓型态吗?

或许你现在有下肢疼痛的困扰，它可能是因为足弓有异常之现象所引起而你却不知道。现在提供一种观察法可以简单了解妳的足弓型态不妨试一试，观察旧鞋如果鞋内侧(包括鞋底及鞋面)有明显损坏则可能是扁平足所引起，如果鞋外侧有明显损坏则可能是高足弓所引起

足弓型态判别法之判绍

一、足印观察法将足底涂上油墨并踩在白纸上藉由足印观察判断高低足弓型态。扁平足的足印特征是足后跟部位与前脚掌部位前后相连，中央部位面积宽肥，严重者甚至有突出的现象。正常型的足印特征是足后跟部位与前脚掌部位前后相连，而且在中央部位的面积比扁平足狭窄。高足弓(空凹足)的足印特征是足后跟部位与前掌部位之中央部位的面积极为狭窄，严重者中间部份甚至不连接。这种方法简单、容易操作但较不精确，针对轻微症狀者不容易判别，对明显严重者则容易观察。

二、型态学足弓测量法

测量足长、足背高长度即可。足可分为正常足、一般平足、严重扁平足及高足弓，可用下列指标「足弓指数」來评定。足弓指数＝（脚背高(A)/脚长(B)）×。A表示舟状骨至地面的距离，B表示大拇趾最前端至跟骨最外缘之距离(如图二)。指数小于(不含)25为严重扁平、介于25至27之间为一般平足、介于27至29之间为正常足、大于(不含)29为高足弓

三、测径器

使用测径器直接量取足弓内侧边缘的软组织之最高点至台面之高度，高度小于2.43公分为扁平足，介于2.43至2.82公分之间为正常足，大于2.82公分为高足弓。

四、X光检查测量

使用X光测量足弓高度的方法有许多研究文献可參考如Cobey()、Mann()、Simkin()，由于测量位置不同，因此对足型态的定义也不尽相同，

正常者介于0至15度，大于15度者为扁平足，大于30度者为重度扁平。X光法比较昂贵、危险性较高，除非是重度異常且已影响个人生活行为需要治療矫正，否则一般人不常使用这种方法來了解自己的足型

足弓型态在选购运动鞋之应用

一、鞋楦(last)与足型之相关性

鞋楦是制鞋的精髓及最重要的部份，它是经由实际测量人体足各部位之长度、宽度、厚度、围度，然后依所测得之数据做出类似足的塑料模型，它的重要性简单地说就是鞋楦的形狀是什么就做出什么样的鞋子，鞋楦的分类依足型的不同区分三种：

(一)扁平足：直型楦头(straightlast)，鞋楦底部内侧沿足弓部位之曲线平直。

(二)正常型：半弯曲型楦头(semicurvedlast)，鞋楦底部内侧沿足弓部位之曲线稍为向内弯曲。

(三)空凹足：弯曲型楦头(curvedlast)，鞋楦底部内侧沿足弓部位之曲线则明显向内弯曲。

足型在选购运动鞋之应用

(一)扁平足：即低足弓足，跑鞋的特性须具备稳定性(stability)及足后部动作控制性(motion-control)等功能，由于这类型的人足弓部已展平故在跑步时容易倾向过度外翻(overpronation)而造成下肢运动伤害，所以跑鞋更须具备能减少过度外翻动作的功能特性，例如坚固的后跟护套(heelcounter)，坚硬的中底(midsole)，避免选购高缓冲特性及弯曲形楦头鞋子，因为它们缺乏稳定性和动作控制性。

(二)正常型：这类型的人在跑步时足的构造本身从力学角度分析，它比较能够有效率地执行吸震功能，因此须强调之跑鞋功能性的限制较少，所以鞋子的选择性也就比较广泛只要具备稳定性、适度之动作控制等功能即可。

(三)空凹足：即高足弓足，这类型的人足部的构造疆硬、足关节间的相关动作很少，在跑步时下肢通常外翻不足(underpronation)，从力学的角度分析这种外翻不足的现象会使得足部不能有效地执行吸震功能。因此应避免动作控制、稳定性等特性的跑鞋，宜选用高缓冲、吸震、材质弹性佳等功能性之跑鞋。

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